硬盘芯片-60℃~+150℃冷热冲击试验箱

性能

温度范围：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：≤ ±2.0℃

升温时间：-20→+150℃≤ 35分钟（约3℃/min）

降温时间：+20→-20℃≤45分钟（约1.2℃/min）

硬盘芯片-60℃~+150℃冷热冲击试验箱

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。

1. 箱体材质：外壳采用优质冷轧钢板喷塑处理，防锈且美观大方；内胆采用不锈钢板制作，具有良好的耐腐蚀性能，易于清洁，可有效避免对测试芯片造成污染。

2. 保温材料：采用高密度聚氨酯泡沫保温材料，保温效果优异，减少热量散失，降低能耗，同时确保箱内温度的稳定性。

3. 样品架设计：配备多层可调节样品架，可根据 DV 芯片的大小和数量灵活调整放置方式，方便样品的取放和测试操作，且样品架采用导热性能良好的材质制作，保证芯片与测试环境的热交换效率。

4. 观察窗：在箱体门上设有大面积的观察窗，采用双层钢化玻璃制作，具有良好的隔热和防雾性能，便于操作人员在测试过程中实时观察芯片的状态变化。