车载芯片测试 冷热冲击试验箱

性能

温度范围：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：≤ ±2.0℃

升温时间：-20→+150℃≤ 35分钟（约3℃/min）

降温时间：+20→-20℃≤45分钟（约1.2℃/min）

车载芯片测试 冷热冲击试验箱

结构特点：
⒈高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，采用数控机床加工成型，并采用平面无反作用把手，操作容易简便。造型美观大方、新颖。
⒉长方形复层玻璃观窗口，大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用双层玻璃，随时清晰的观测试验中进行试验品，窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。
⒊箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。
⒋具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。
5.设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，***实验安全运行不发生意外。箱体左侧配直径50mm的测试孔。
6.冷热冲击试验箱箱体箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板或304B氩弧焊制作而成。

控制系统：

主控制器采用进口日本"OYO"双回路***液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警，配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行，恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5