Ux-800P二次靶-广州市广精精密仪器有限公司手机版

详细介绍

Ux-800P二次靶

Ux-800P二次靶

采用三维立体光路，实现划时代的创新，针对元素的检测，可靠性、抗干扰性、精度、检出限，有了革命性的突破，全面提升了产品性能。

1) 技术：

1、二次靶技术:

二次靶技术：如图所示：图1a是从X光管出射的原级X射线。图1b是使用滤光片的出射谱。图1c为二次靶出射谱，很明显二次靶技术使散射背景很弱，而弱的散射背景使得样品出射谱的散射背景强度很低。

2、空间三维立体光路：根据偏振光的特性安排的空间立体光路。我们让原级X射线以45°入射角入射到二次靶上，二次靶上出射的散射 (反射)线再以45°角入射到样品。这样的空间三维立体光路起到一个除去二次靶材散射背景的作用，使散射背景大大降低。

3、Ux-800P应用了精心设计的滤光片，基本做到单色激发。

4、高管压X光管，结合偏振二次靶的作用，使Cd、Sb、Ba等元素的检出限大大降低。

谱图对比：图2和图3分别为传统EDXRF仪器和Ux-800P测塑胶样品的谱图的对比。从图2图3中不难看出，与传统的EDXRF Ux-220相比，Ux-800P的散射背景明显降低，各个待测有害元素特征峰的峰背比都有了显著的改善，尤其以Cd和Cr明显。

图2.传统EDXRF检测欧盟PE标样谱图

图3.偏振二次靶Ux-800P检测欧盟标样谱图

P3：解决产业六大难题：

1、解决高溴中的Pb、Hg检测，检测均下限低于20ppm，从图4可以看出，即使20ppm的Pb，也能可靠稳定的检测出来，并且线性相当不错。

图4.Ux-800P含检测10%Br的PE样品

2、解决锡中的Cd检测，检测下限低于20ppm，图5是环保焊锡中200ppm以下Cd的检测，使用传统的EDXRF几乎是不可能的，但采用Ux-800P，可以对焊锡中的20ppm的Cd进行稳定可靠的检测，可以满足RoHS要求。

图5.是环保焊锡中200ppm以下Cd的检测

3、能对含Pb同时含As的样品进行准确检测，如图6 Ux-800P经过合适的配置，可以准确地检测As的含量，进而可以准确计算Pb的含量。

图6. Ux-800P检测含Pb同时含As的样品

4、应对玩具指令中的八大重金属进行高精度检测，检测下限均达到10ppm（如图7）

图7. Ux-800P测试玩具八大重金属谱图

5、能对含有高含量Bi样品中的Pb进行准确检测；

6、能对含有很高的Ti的样品中的Cl进行准确检测；

以上几种是目前传统XRF仪器无法解决的难题，Ux-800P解决了。而UX-800P功能远不止这些，它能广泛地应对各种环保指令包括RoHS、EN71、ASTM-F963、Reach等等。