X-ray膜厚仪是天瑞仪器结合20多年的X荧光研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，性价比优的金属电镀层厚度检测仪。

X-ray膜厚仪镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3、库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

性能优势

1.性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的性更高。

2.满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

3.快速：40S就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。

4.无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

5.直观：实时谱图，可直观显示产品测试点

6.简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

7.性价比高：相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。