X射线镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

X射线镀层测厚仪Thick800A性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm；

采用高度定位激光，可自动定位测试高度；

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；

高分辨率探头使分析结果更加；

良好的射线屏蔽作用；

测试口高度敏感性传感器保护。

技术指标

型号：Thick 800A

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量般为ppm到99.9%。

镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）。

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序。

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm。

重量：90kg。

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器。

保护传感器。

计算机及喷墨打印机。

产品特点

•应用于各种镀层厚度的分析；

•稳定高压电源和X光管，测试结果稳定；

•系统、的分析软件和分析方法；

•多元的线性回归法，消除和降低元素间的吸收、增强效应；

•多种准直器和滤光片的自动切换；

•软硬结合的防辐射设计；

•操作简便，键式操作设计；

•快速无损分析样品；

•超温保护，超载保护。

技术规格

•探测器：美Amptek Si-PIN探测器，高速脉冲分析系统

•高压电源：美Spellman 50w（50kv/MA）

•X射线管：50w侧窗铍窗型X射线管

•能量分辨率：149ev

•测量时间：60-300S

•测量含量范围：2ppm-99.9%

•交流220v供电设备：1KVA交流净化稳压电源

•工作温度：10-30°C

•测量条件：大气环境

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测；

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定；

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。