技术指标
zui大称量值 120g
精细量程的zui大称量值 31g
可读性 0.1mg
精细量程的可读性 0.01mg
重复性：正常加载（sd） 0.06mg（100g）
重复性：微量加载 0.05mg（10g）
重复性：精细量程微量加载 0.015mg（10g）
线性 0.15mg
四角误差 0.2mg（50g）
灵敏度漂移 4x10-6
灵敏度温度漂移（10-30°C） 1x10-6/°C
接口更新速率 23/s
天平外型尺寸（W×D×H mm） 263×486.5×322
秤盘尺寸（W×D mm） 76×73
XP105DR电子分析天平


XP超越系列型分析天平
梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。革命性的创新设计带来了*的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

红外感应器（SmartSense），实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等
彩色智能触摸屏（SmartScreen），实现安全，便捷的天平操作
网格秤盘（SmartGrid），获得快速、准确称量结果
水平控制系统（LevelCControl）, 在天平偏移水平位置时提供警告提示功能
易巧称量组件（ErgoClip），满足使用不同容器的称量需求
用户管理工具（UserManagement），可以独立设置操作者的使用权限
MinWeighzui小称量值功能，提供符合规范的称量帮助（需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活）
天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确
ProFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得精确称量结果
*可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁
高度可调节的内置防风罩，确保精确称量结果
可移动、分离的显示控制终端，方便天平使用
标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备
显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀
6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量