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安柏Applent[AT2817精密LCR数字电桥]
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面议安柏Applent[AT4508多路温度测试仪]
面议安柏Applent[AT776精密电感测试仪]
面议安柏Applent[AT617精密电容测试仪]
面议安柏Applent[AT680漏电流测试仪]
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面议【AT526交流低电阻测试仪
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面议安柏Applent[AT610电容测试仪]
面议AT510X40 40路电阻测试仪 | |||||||||||||||||||||||||
AT510X40 是一种高精度宽量程、超高扫描速度、采用高性能微处理器控制的多路电阻测试仪。为您量身定做的多路电阻测试仪,定制量程,从1μΩ~3MΩ,zui大显示3999数。受益于安柏*的电阻测量技术,使得多路测试周期高达50ms/次,AT510X20 40路电阻测试仪为您提供每秒钟高达800个器件的测试。 配备Handler接口,将多路测试结果同时输出给PLC。 | |||||||||||||||||||||||||
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技术规格 | |||||||||||||||||||||||||
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性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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应用 | |||||||||||||||||||||||||
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