电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱

电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱

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具体成交价以合同协议为准
2021-11-27 08:40:25
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东莞市勤卓环境测试设备有限公司

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产品简介

电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱又名高低温冲击试验箱、快速温度变化,产品主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化

详细介绍

1.电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱详细参数:

  • 产品名称

两箱式冷热冲击试验箱

分高温区、低温区两部分,测试样品放置在其中一个工作室内,通过气动方式实现样品在高低温室的切换,完成冷热温度冲击测试。*之蓄热、蓄冷结构确保试验箱恒温性能良好。

  • 产品型号

COK-50-2H

注:风冷型不用安装冷却水塔,水冷型则要安装,依客户要求而定。

  • 试样限制

本试验设备禁止:

①易燃、易挥发性物质试样的试验或储存

②腐蚀性物质试样的试验或储存

③生物试样的试验或储存

④强电磁发射源试样的试验或储存

  • 容积、尺寸和重量

标称内容积

150L

提篮尺寸

W500*H600*D500mm

尺寸

W1800*H1900*D1540mm

冲击温度

-40℃~150

  • 性能
  • 测试环境条件
  • 测试方法

环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下

GB/T 5170.2-1996 温度试验设备。

  • 高温测试区

5.3.1.高温室

+60℃→+180℃

5.3.2.温速度

升温 +60℃→+180℃ ≤25min

注:升温时间为高温室单独运转时的性能

低温测试区

5.4.1.温度范围

-55℃~-10℃

5.4.2.降温速度

降温 -10℃ → -55℃≤35min

注:降温时间为低温室单独运转时的性能

试验方式

5.5.1.试验方式

试验吊篮通过气动方式使样品在高温和低湿测试区相互切换。

5.5.2.温度冲击

+50~+150)℃/-40~-10)℃

5.5.3.温度波动度

±0.5

5.5.4.温度偏差

±2.0

5.5.5.温度恢复间

≤3~5min

5.5.6.温度转换间

≤10sec

5.5.7.测试功能

可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,具有高低温交变试验箱的功能。

  • 满足试验标准

GB/T 2423.1-2008 试验A:低温试验方法

GB/T 2423.2-2008 试验B:高温试验方法

GB/T2423.22-2002 试验N:温度变化试验方法 试验Na

GJB 150.5A-2009 设备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

GJB 360A-1996 温度冲击试验

GJB367.2-2001 通信设备通用规范 温度冲击试验

IEC 68-2-14 試驗方法 N :温度变化

2.电子元器件冷热冲击高低温老化试验箱结构:

一、高温室

加热器:镍铬合金电加热器
风机:高温、环境温度曝露时共用离心风机,预热用轴流风机

二、低温室

加热器、冷却器:镍铬合金电加热、翅片式冷却器、蓄冷器
风机:离心风机

三、驱动装置

气动气缸:高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用
空气压缩机:提供驱动气动风门的压缩空气(选件)

四、制冷机组

制冷方式:机械压缩二元复迭制冷
制冷压缩机:半封闭活塞式
制冷剂:23/R404 环保型
冷凝器:不锈钢钎焊板式换热器

五、控制器

操作界面:6" 彩色液晶显示触摸屏,中文菜单提示
程序记忆容量:100 组用户程序(可自行编制,修改)
设定指标范围:时间:1分钟~99小时59分钟,循环:1~999循环
分辨率:温度: 0.01 ℃,时间: 1 分钟
输入:T型热电偶
控制方法:PID控制
附属功能:定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示
电源:AC380±10%V 50±0.5Hz,三相四线+保护地线
功率(kw):20,21,22
冷却循环水:水压:0.2~0.4MPa,水温:≤30℃
压缩空气:0.5~0.7MPa
标准配置:试验箱状态表示灯,累时器1个,引线孔(25×100mm长圆型孔箱体左侧面)1个,驸马脚轮6个,调整脚4个

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