SM-114测厚规

SM-114测厚规

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2022-08-03 13:42:16
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上海源琦检测仪器有限公司

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产品简介

SM-114测厚规
品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围:0-10mm
Z小读数:0.01mm
测量深度:120mm
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

详细介绍

 

SM-114测厚规

品牌:TECLOCK(日本得乐

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。

测量范围:0-10mm

zui小读数:0.01mm

测量深度:120mm

原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数:

指式方式:指针式

测量范围:0-10mm

zui小读数:0.01mm

测量深度:120mm

体积大小:(W*D*H)190*23*145mm

重量:250g

 

测厚仪系列:

英国牛津 CMI 233测厚仪

英国牛津 CMI153 便携式涂镀层测厚仪

北京时代TT210数字式涂层测厚仪

北京时代TT220数字式涂层测厚仪

TT230数字式涂层测厚仪

日本得乐测厚规

国产测厚规

国产数显测厚规

:李

http://www.yuanqi17.com/

litianbao320

 

 

 

 

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