阻旋式料位开关TC-UJL－1G
用途  
        TC-UJL系列阻旋式料位开关，可广泛于各种料仓内固体物料料位上限的定点 

报警或控制。 

阻旋式料位开关TC-UJL－1G
       如矿粉、水泥、煤粉、粮食、饲料、化肥、化纤原料及塑料等干燥物料。 
▲特点  
△体积小，重量轻、安装方便  
△磁耦合传递转矩，过载时具有“滑脱”功能，可保护电机  
△叶片可合并并自动展开，便于安装和拆卸  
▲结构原理  

阻旋式料位开关 阻旋料位计 型号：TC-UJL－1G 
       阻旋料位开关是依据物料对旋转叶片的阻尼作用而工作的。叶片受阻时，过载检测器动作， 

断电器输出开关信号，实现信号远传报警。同时，通过外接控制线路启、停给料机，可实现料 

产品名称：三联多联不锈钢溶液过滤器/ 微生物检验系统（薄膜过滤器） 产品型号：WSW-3

 * 微生物检验系统（薄膜过滤器）  型号：WSW-3


【主要特点】　　 
1.一体化小型设计，减小了对实验操作空间的占用。 
2.二合一功能，不但是可做微生物限度检查使用，还可当独立真空泵使用，大大节省成本。 
3.可同时抽滤2,3,4,6张滤膜，抽滤速度快，工作效率高。 
4.滤杯采用卫生级以上镜面不锈钢制作，经久耐用，耐酸碱，耐高温，易消毒。可重复使用，节省成本，操作方便。 
5.每个滤杯都划有刻度，滤杯容量小于150ML 
5.每个滤头采用独立的阀门控制，并且设计为插拔式安装方式，方便操作人员灵活使用。也方便实验人员做消毒杀菌。 
6.配备进口无油双活塞真空泵，功率强大，流量高达120L每分，负压接近-0.1MP，过滤速度快。 
7.每台系统都配备进口负压表，便于观察系统的负压情况 
8..全不锈钢设计，表面镜面处理，方便清洁和杀菌消毒。 
【工作原理】 
　　将样品放入微生物限度滤头内，通过检验仪自带内置真空泵负压抽滤，将样品中微生物截留在滤膜上，用取膜器取出滤膜，转移至配置好的固体培养基上，菌面朝上，平贴。盖上盖子形成封闭的培养盒，置于相应的恒温培养箱内培养并计数。 
【使用范围】 
制药：纯化水、注射用水、眼用制剂、原料药、胶囊、生物制品、片剂、口服制剂 
化工：各种需测试微生物水样 食品：纯净水、矿泉水、饮料，环境监测，卫生防疫，自来水等行业。

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产品名称：数字式四探针测试仪 产品型号： ST2253

数字式四探针测试仪 型号： ST2253 
概述   
      ST2253型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 

    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。 
    主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！ 
     
    探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
     
    测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。 
      详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入 
    仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。 
    仪器于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本技术参数 
     
3.1  测量范围 
     电  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
     直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    测量方位: 轴向、径向均可 
3.3.  4-1/2 位数字电压表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.4 数控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)误差：±0.1%读数±2 字 
3.5 四探针探头（选配其一或加配全部） 
    (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调 
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调 
3.6. 电源 
    输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高） 
   净   重：≤2.5kg