品牌
代理商厂商性质
上海所在地
电阻率测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统全面地考虑了仪表配置、电路接线(包括室温和低温的接线)等用户经常忽略的问题,选取了美国Keithley的电测量仪表,磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体, 配备灵巧的测量样品杆,加上全自动化的测试软件,能让用户快速方便地进行样品测试,并获得准确可靠的数据。
电阻率测试系统主要特点:
1)标准系统使用插入式样品夹具,样品安装方便;
2)基本配置一次zui多可以加装四个样品, 并同时可以对两个样品进行测试;
3)标准系统随机配送一个探针样品卡;
4)标准系统可以进行不同磁场下的霍尔效应、I-V特性的测量;
5)电阻测量范围宽:0.1mΩ—50GΩ(高阻系统),测量的不确定度为2%;
6)测试过程和计算过程由软件自动执行,节省了大量的时间;
7)软件可以显示测量结果和测量曲线;
8)系统磁场采用闭环控制,可以提供高稳定性的磁场, 同时解决了磁铁剩磁问题,实现真正的零磁场;
9)选择变温选件,可以进行不同温度下的霍尔效应测量和I-V特性测量。
基本配置组成:
一、测量仪表部分
标准系统: 美国Keithley公司的2400电流表、2700万用表、7709矩阵卡以及接口适配器和GPIB电缆等。
高阻系统:美国Keithley公司的6220电流表、 2182A 纳伏表、6485皮安计、 6514静电计、7001开关盒、7152矩阵卡以及相应的连接电缆、接口适配器和GPIB电缆等。
二、磁场组成部分
电磁铁系统:
根据用户需要的磁场大小来选购电磁铁(可见首页电磁铁类),然后再选配对应电磁铁的功率电源。如磁场3T以上需配超导磁体及超导电源。
三、配件部分
测试总成:包括样品杆及支架总成、 样品盒模块、样品卡和连接测试电缆等;
仪表安装柜、高性能电脑和液晶显示器;
电阻率测量系统软件;
安装和操作使用手册等。
系统可测试材料:
半导体材料:
Si、Ge、GaAs、GaN、AlGaAs、CdTe、HgCdTe、CdTe、ZnO、SiC、GeSi、InP、MCT等,以及弱磁半导体和稀磁半导体的薄膜及块材;
铁氧体材料;
低阻抗材料:金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR材料等。
系统基本功能:
可以进行霍尔效应、I-V特性(电阻率)及磁电阻(MR)的测量;
可得出参数:霍尔效应——方块电阻、电阻率、霍尔系数、导电类型、霍尔迁移率、载流子浓度;
I-V特性的MR的特性曲线包括:
不同磁场下的I-V特性曲线
不同温度下的I-V特性曲线
不同磁场下的变温I-V特性曲线
不同温度下的变磁场I-V特性曲线
电阻随温度、磁场变化的特性曲线
P-B曲线
主要技术指标:
样品尺寸:
1)小尺寸双面样品卡,面积为12×12mm2(随机配送10个);
2)大尺寸单面样品卡,面积为50× 50mm2(随机配送10个);
3)探针样品卡,可测样品尺寸范围:1×1mm2, , ~30×30mm2(随机配送1个)。
温度环境(标准系统不带变温选件,只能进行室温下的测量):
无液氦超导磁体系统(系统自带低温选件, 不用单独选择):1.6K~325K
液氮恒温器选件:
标准液氮恒温器: 80K~325K
高温型液氮恒温器:80K~500K
循环制冷机选件(不消耗液氦/液氮等制冷剂):
标准4K制冷机系统: 4K~325K
高温4K制冷机系统: 4K~500K
高温4K制冷机系统: 4K~700K
标准10K制冷机系统: 10K~325K
高温10K制冷机系统: 10K~500K
高温10K制冷机系统: 10K~700K
微型制冷机系统: 45K~325K
主要电性指标: