MT150测厚仪

采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航天等各个领域。

MT150测厚仪技术参数
显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；
测量范围：0.75～300mm（钢中），公制与英制可选择；
声速范围：1000~9999 m/s：
分 辨 率：0.1mm
示值精度： ±（0.5%H+0.04）mm H为被测物实际厚度
测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；
存储容量：可存储20组（每组zui多99个测量值）厚度测量数据。
工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池串联）
持续工作时间：约100小时（不开背光时）
外形尺寸：150×74×32 mm
整机重量：245g
主要功能
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；
可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；
具有探头零点校准、两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正；
已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；
具有耦合状态提示功能；
有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；
具有自动休眠、自动关机等节电功能；
小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；

工作原理

本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，精确地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。  
式中：
H-测量厚度；
v-材料声速；
t-超声波在试件中往返一次的传播时间。

配置

表1 仪器配置

测厚仪 探头选择

工作条件

环境温度：操作温度-20～＋50℃；存储温度：-30℃～＋70℃
相对湿度≤90％；
周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘。

主显示界面

仪器开机后会自动进入主显示界面，如下图所示：

耦合状态：探头与被测工件的耦合状态
单位制式：MM、M/S（公制时)，或者IN、IN/μS(英制时)
电池电量：电池剩余电量显示
信息显示：显示厚度测量值，以及简单的操作提示信息。

材料声速表