美国泛美测厚仪

Panametrics 35美国泛美测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-11-02 11:08:11
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深圳市伟峰仪器仪表有限公司

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产品简介

美国泛美测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型 35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25~30 MHz的探头,因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚

详细介绍

 

 Panametrics 35美国泛美测厚仪

美国泛美35测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型
35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25~30 MHz的探头,因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说,探头频率越高而直径越小,对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

 

美国泛美测厚仪应用

• 从薄到厚的大多数材料
• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件
• 汽缸孔、涡轮叶片
• 玻璃灯泡、瓶子
• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
• 半径较小的曲面部分或容器
• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸

Panametrics 35超声波测厚仪

利用减缩率,可测量金属材料因弯曲而变薄的临界厚度值。

 

减缩率测量

所有仪器型号的标准配置都具有差分模式和减缩率模式。差分模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比。典型的应用是对为制造车身面板而弯曲成形的钢板进行测量。

Panametrics 35超声波测厚仪

可直接显示声速数值的声速测量模式

 

Panametrics 35材料声速测量
所有Panametrics 35型仪器均具有测量材料声速的性能。在材料声速与其它特性可能有关系的应用中,这个标准功能非常有用。典型应用包括监测金属铸件的球化程度,以及监测复合材料/玻璃纤维材料的密度变化。Olympus提供一个数字卡尺,用于自动传输测量厚度值。

自动调用功能可简化测量操作
自动调用功能可使厚度测量简化。在选择了任何一种所存的探头时,35型仪器都可调用相关内置探头的所有参数。
存储的标准设置标准设置包括大多数常用的探头。
存储的自定义设置在标准设置不能满足特殊的应用需求时,这些测厚仪可以创建、存储和调用多达20个自定义设置(35型和35HP型可调用10个自定义设置)

配合M208探头应用

Panametrics 35超声波测厚仪

在这种基本应用中不可使用测微计。然而,可以使用配有M208探头的35型仪器,在不损坏玻璃的情况下,进行校准精度达0.001毫米(0.0001英寸)的厚度测量

Panametrics 35超声波测厚仪

超薄钢板(0.10毫米或0.004英寸)的厚度和波形。
分辨率(通过键区可选):
低: 0.1 mm (0.01 in.)
标准: 0.01 mm (0.001 in.)
高: 0.001 mm (0.0001 in.)
(35型和35DL型)

 

渡越时间测量范围:0.0 µs~109.5 µs
渡越时间分辨率:固定在000.01 µs。
测量更新速率:4、8、16或zui大频率值(16~20 Hz,因应用和测量模式不同而不同)。
探头频率范围:2.25 MHz~30 MHz(35型和35DL型)
0.5 MHz~5.0 MHz(35HP型和35DL-HP型)
zui小/zui大模式:显示当前厚度、zui小厚度或zui大厚度(视设置而定)。
显示保持/空白:显示上一个读数后,屏幕显示空白或者持续显示这个读数。
报警模式:可编程高/低报警设定点,带有视听报警指示器。
差分模式:显示实际测量值和参考值之间的厚度差。
缩减率模式:显示厚度数值及实测厚度与参考厚度的百分比差值。
自动调用功能:自动为各种默认的和自定义的探头设置调节内部参数。

标准附件

手腕带、3节AA电池、试块、探头线缆、耦合剂、便携箱、指导手册、两年有限保修
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