MiniTest功能
| 型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | | MINITEST 存储的数据量 | | 应用行数（根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数） | 1 | 1 | 10 | 99 | | 每个应用行下的组（BATCH）数（对组内数据自动统计，并可设宽容度极限值） | - | 1 | 10 | 99 | | 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | - | 1 | 500 | 500 | | 数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | | MINITEST统计计算功能 | | 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ | | 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ | | 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ | | 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | - | - | - | √ | | 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | - | - | √ | √ | | 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | - | √ | √ | √ | | 其他功能 | | 透过涂层进行校准（CTC） | - | √ | | | | 在粗糙表面上作平均零校准 | √ | √ | √ | √ | | 利用计算机进行基础校准 | √ | √ | √ | √ | | 补偿一个常数（Offset） | - | - | √ | √ | | 外设的读值传输存储功能 | - | √ | √ | √ | | 保护并锁定校准设置 | √ | √ | √ | √ | | 更换电池是存储数值 | √ | √ | √ | √ | | 设置极限值 | - | - | | | | 公英制转换 | √ | √ | √ | √ | | 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别zui大zui小值 | - | - | | | | 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | - | - | | | | 浮点和定点方式数据传送 | √ | √ | √ | √ | | 组内单值延迟显示 | - | √ | √ | √ | | 连续测量模式中显示zui小值 | √ | √ | | |
MiniTest可选探头参数（探头图示）
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
| 探头 | 量程 | 低端
分辨率 | 误差 | zui小曲率
半径（凸/凹） | zui小测量
区域直径 | zui小基
体厚度 | 探头尺寸 | | 磁
感
应
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±（1%±0.7μm） | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | | F10 | 0-10mm | 5μm | ±（1%±10μm） | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | | F20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±10μm） | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | | F50 | 0-50mm | 10μm | ±（3%±50μm） | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | | 两
用
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 30mm | F0.5mm
N50μm | φ21x89mm | | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm
N50μm | φ15x62mm | | 电
涡
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±（1%±0.5μm） | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±（1%±1μm） | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | | N10 | 0-10mm | 10μm | ±（1%±25μm） | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | | N20 | 0-20mm | 10μm | ±（1%±50μm） | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | | N100 | 0-100mm | 100μm | ±（1%±0.3mm） | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±（1%±1μm） | 平面 | 7mm | 无限制 | φ17x80mm | | 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
MiniTest探头图示
 | FN1.6
0～1600μm,φ5mm
两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度
|  | F05
0～500μm,φ3mm
磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
|  | F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性测头
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | F3
0～3000μm,φ5mm
磁性测头
可用于较厚的覆层
|  | F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性测头
尤其适合于在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | F10
0～10mm,φ20mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
|  | F20
0～20mm,φ40mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等
|  | F50
0～50mm,φ300mm
适合测量钢结构（如水箱、管道等）上的防腐覆层的隔音覆层
|  | N02
0～200μm,φ2mm
非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层
|  | N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层
尤其适合在管内壁测量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
|  | N10
0～10mm,φ50mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|  | N20
0～20mm,φ70mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|  | N100
0～100mm,200mm
非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等
|  | CN02
10～200μm,φ7mm
用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 | |
