HK-DWZZ-01低温挠卷试验装置
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一，低温挠卷试验装置标准：JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二，低温挠卷试验装置说明：
导体断面积100mm2以下之试料在本机内冷却1小时后，立即以均匀之速度卷绕于规定直径之圆杆上。断面积100mm2以上之试料，则先行卷绕，再冷却相同之时间后，立即以反方向卷绕于圆杆上。取出试料，检视其表面是否产生龟裂、裂痕。
三，低温挠卷试验装置技术参数：
温度 Temp. | 冷却方式 Cooling method | 降温速度 Cooling speed | 精度 Accuracy | 材质 Material | 圆杆 Rod | 内箱 Test chamber | 线套 | 体积 Dimension (W×D×H) | 重量 Weight | 电源 Power |
-40～+130℃ | 气冷式 Air Frozen | 常温 Room temp. ～-40℃, 60min | ±2℃ | 内外箱， SUS304# | Φ4.0～37.5mm，共12支 | 45×50×50cm | Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 | 100×80×135cm | 262kg | 1∮ AC 220V 30A |
