产品简介
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
详细介绍
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标：
* 波长范围及峰值波长 （二者择其一）
（1）UV－365探头（光谱响应曲线见图）
λ：（320～400）nm； λP＝365nm
（2）UV－420探头（光谱响应曲线见图）
λ：（375～475）nm； λP＝420nm
* 辐照度测量范围
（0.1～199.9×103）μW/cm2
* 紫外带外区杂光
UV365 小于0.02％
UV420 小于0.02％
* 准确度
±10％
* 响应时间
1秒
* 使用环境
温度（0～40）℃；湿度＜85％RH
* 尺寸和重量
180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 电源
9V积层电池一只
