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EQ-TM106膜厚监测仪
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经销商沈阳科晶自动化设备有限公司是由毕业于美国麻省理工学院的江晓平博士于
2000年5月创建。与合肥科晶材料技术有限公司、深圳市科晶智达科技有限公司同属于科晶联盟。自*SYJ-150低速金刚石切割机诞生以来,沈阳科晶便开始了以赶超国外同行、材料分析设备潮流为目标的发展历程。时至今日,已经拥有涵盖材料切割、研磨、抛光、涂膜、镀膜、混合、压轧、烧结、分析等领域以及相关耗材的上百种产品,可以满足晶体、陶瓷、玻璃、岩相、矿样、金属材料、耐火材料、复合材料、生物材料等制备分析的全套需要。
EQ-TM106膜厚监测仪是采用石英晶体振荡原理,结合*的频率测量技术,进行膜厚的在线监测。主要应用于MBE、OLED热蒸发、磁控溅射等设备的薄膜制备过程中,用于对膜层厚度及镀膜速率进行实时监测。膜厚监测仪根据制备薄膜的实时速率可以输出PWM(脉冲宽度调制)模拟量,作为膜厚传感器使用,与调节仪和蒸发电源配合实现蒸发源的闭环速率控制,从而检测所制备薄膜的厚度。膜厚监测仪体积小巧可节省实验室空间,原理简单,操作方便,尤其适合于实验室中薄膜制备过程的使用。
EQ-TM106膜厚监测仪
主要特点 | 1、本机可与计算机连接。 2、显示仪具有界面简洁、直观、合理、操作方便快捷等优点,可直观显示所测的膜厚、速率、频率、PWM控制输出的百分比等工作状态。 3、通过软件或显示仪可对门控时间、输出方式、速率算法、材料参数、输出量程及通讯参数等进行设置,并可将所测相关数据写入Excel文件。 4、具有体积超小、测量精度高、操作简单、使用方便等优点。 | ||
技术参数 | EQ-TM106-1监测组件 1、电源:DC 5V(±10%),zui大电流400mA 2、频率分辨率:±0.03Hz 3、膜厚分辨率:0.0136Å(铝) 4、膜厚准确度:±0.5%,取决于过程条件,特别是传感器的位置,材料应力,温度和密度 5、测量速度:100ms-1s/次,可设置 6、测量范围:500000Å(铝) 7、标准传感器晶体:6MHz 8、计算机接口:RS-232/485串行接口(波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可设置,数据位:8,停止位:1,校验:无) 9、模拟输出:8比te分辨率,PWM脉宽调制输出(集电极开路或内部5V输出) 10、工作环境:温度0-50℃,湿度5%-85%RH,不得有冷凝水珠 11、外形尺寸:90mm×50mm×18mm | ||
EQ-TM106-2显示仪 1、输入电源:AC 220V±10% 2、输出电源:DC 5V 3A 3、显示器:12×2数码管与LED 4、通讯端口:RS-485(波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可设置,数据位:8位,停止位:1位,奇偶校验:无) 5、外形尺寸:182mm×65mm×160mm | |||
EQ-TM106-3探头 1、适用晶片频率:6MHz 2、适用晶片尺寸:Ø14mm 3、安装法兰:CF35 4、冷却水管:Ø3mm,长度300mm、500mm、1000mm 5、冷却水压:<0.3MPa 6、气动挡板路管:Ø3mm 7、压缩空气压力:<0.8MPa,>0.5MPa 8、烘烤温度:通水状态<200℃,不通水状态法兰<100℃ 9、电气接口:BCN插座 |