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XAU-4C光谱分析仪
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江苏一六仪器有限公司坐落于苏州昆山市，是一家专注于光谱分析仪器研发、生产的*。
公司的研发团队与海内外专家通力合作，开创了基于Alpha系数和FP算法的第三代核心算法-多元迭代EFP核心算法，开发了高均值聚集光源的微光聚集技术，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。公司现有*高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体*X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。*的技术，专业的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。
详细信息
性能优势：
1.微小样品检测：*小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
3.*的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可测量。
4.*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。
5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。
6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。
一六仪器研制的测厚仪*的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。
*的EFP算法
专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
RoHS检测及标定
