反射式EUV测试图案

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反射式EUV测试图案

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光学仪器组件,X射线仪器部件/操作系统
在专业、敬业、拼搏的理念指导下,不断进取学习,时刻关注科学领域的发展和创新,北京众星联恒科技有限公司致力于引进的EUV/SXR/X射线产品、及新孵化*产品给中国的同步辐射,研究所,高校及制造业的客户。 我司是德国INCOATEC公司、美国XOS(光学组件)、德国X-SPECTRUM、德国GREATEYES、德国Microworks、捷克ADVACAM、及英国MSI辉光放电质谱仪的中国区总代理,产品线包含X射线源、EUV/SXR/X射线光学元件、EUV/SXR/X射线探测器、X射线分析系统和辉光光放电质谱仪等。我司同时致力于给客户提供x射线解决方案,并于2016年推出了具有自主知识产权的桌面超快X射线诊断装置,具有超微、超亮、高信噪比和高稳定性的特点,在物质超快过程研究、精细分辨成像等方面具有重要的应用价值。 我们坚持以客户需求为导向,以专业、专注为根本,以高效服务为核心,紧密跟进学科的发展,努力从客户处学习并丰富完善自己的技术储备,解决客户的实际需求,以前沿技术驱动的创新获取公司发展的空间,逐步成长为优秀的X射线领域及的材料分析系统方案提供商。 我们敬畏知识不断进步所带来的变化和革新,坚信:高品质的产品及优质的服务是获得客户认可的标准!

详细信息

公司介绍:

NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量*的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。

产品介绍:

· 反射型。

· 可提供图案:线宽和缝宽80 nm以下。其他图案还在研发中。

· 线上可以加工“缺口”,线之间可以加工“桥接”用于标记。

北京众星联恒科技有限公司

北京众星联恒科技有限公司

· 由于设计灵活,所以性能更高,成本也更低。

· 正在开发50 nm及以下的线缝和缝宽图案。在有限条件下,可以提供图案分辨率样本。


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