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Bruker DektakXT台阶仪
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Bruker DektakXTL台阶仪
主营产品公司介绍
垂直量程
1mm
垂直分辨率
0.1nm
单次扫描长度
55mm ( 200mm)
样品高度
50mm
样品台尺寸
100mmX100mm (手动) 150mmX150mm(自动)
样品台旋转
360 度连续旋转
台阶测试精度
<5Å( 1sigma on 1μm step)
QCC维修美国NanoMap-PS台阶仪
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