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Bruker DektakXTL台阶仪
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Bruker DektakXT台阶仪
主营产品公司介绍
垂直量程
1mm
垂直分辨率
0.1nm
单次扫描长度
55mm ( 300mm)
样品高度
50mm
样品台尺寸
300mmX300mm (自动) 350mmX350mm(自动)
样品台旋转
两点定位 360 度连续旋转
台阶测试精度
<4Å( 1sigma on 1μm step)
观察系统
双镜头设置
QCC维修美国NanoMap-PS台阶仪
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