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1003C 蝶形激光器老化测试用插卡式源表
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普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、插卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等，*国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合，帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。
武汉普赛斯将以服务客户为中心，追求可持续发展，精益求精，坚持不懈，努力将自身打造成。
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武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业，专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括：华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等，公司旨在为光电器件生产企业提供完美的服务，针对产线生产的痛点问题，模拟现实应用环境，进行半导体光器件性能指标生产监测和测试，实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点，从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。
详细信息
数字源表是电学测试的B备仪器之一，是一种多用途仪器，从操作功能上说，源表一般都具备恒流输出、恒压输出、电流扫描、电压扫描功能，通过基本功能的设置、组合，源表可以构建复杂的测量测试功能。特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、太阳能电池、印刷电子技术等领域。
源表也可搭配其它仪器设备（开关系统、皮安表或者拉伸设备、温度、磁场控制设备）组成应用更广泛的测试系统（例如：霍尔效应测试系统）。
源表有一个简单的定义，就是五表合一（电流源、电压源、电流表、电压表、电子负载），也就是源输出+测量一体化，不同品牌及不同型号的源表都符合这个要求，只是差别在于输出范围、测量精度、速度、通道数不同。
对于早期应用Z为广泛的2400源表，国内早已推出对标产品——S型国产数字源表，z大输出电压可达300V，Z小电流分辨率10pA，支持四象限工作，而且是触摸屏操作哦！
针对需要用到多通道的场景，普赛斯推出了插卡式源表，目前有1003CS和1010CS两款主机，分别支持3插槽和10插槽，使用10插卡主机时，用户可实现高达40通道的配置，用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现在优性价比搭配。目前已成功的应用于气敏电阻8通道的测试！连接图如下所示：
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插卡式源表特点
源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半
四象限工作（源和肼），源及测量范围
单主机可支持10子卡，Z高实现40通道
灵活的通道触发总线，多子卡高效协同工作
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持多种通信接口，RS-232、GPIB及以太网
技术指标
1003C 主机：
插槽数：Z多支持3通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz，z大功率500W；
工作环境：25±10℃；
尺寸：178mm高 × 482mm宽 × 552mm长；
质保期：1年；
1010C 主机：
插槽数：Z多支持10通道；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz，z大功率500W；
工作环境：25±10℃；
尺寸：354mm高 × 482mm宽 × 552mm长；
质保期：1年；
插卡式源表应用
纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等
有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等
传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
小功率VCSEL及蝶形激光器老化
