数字源表测电阻率四探针法
数字源表测电阻率四探针法
数字源表测电阻率四探针法
数字源表测电阻率四探针法
数字源表测电阻率四探针法

首页>仪表大类>其它仪表大类>其它

S型 数字源表测电阻率四探针法

型号
S型
武汉普赛斯仪表有限公司

免费会员 

生产厂家

该企业相似产品

光电探测器测试SMU源表

在线询价

PD二极管测试数字源表

在线询价

光伏电池伏安特性测试数字源表

在线询价

多通道源表测试气体传感器

在线询价

数字源表测半导体霍尔效应

在线询价

钙钛矿电池IV扫描分析用数字源表

在线询价

蝶形激光器老化测试用插卡式源表

在线询价

数字源表测试功能有哪些呢

在线询价
源表,数字源表,源测单元,SMU,脉冲电流源,VCSEL测试仪器,

普赛斯仪表自主研发的高精度台式数字源表、卡式源表、窄脉冲电流源、VCSEL测试系统等,*国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺,为客户提供模块化硬件、高效驱动程序和高效算法软件组合,帮助用户构建自定解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台,以及相关技术服务,满足行业对测试效率、测试精度,以及低成本的挑战。

武汉普赛斯将以服务客户为中心,追求可持续发展,精益求精,坚持不懈,努力将自身打造成。

普赛斯仪表www.whpssins.com

武汉普赛斯电子技术有限公司是一家高科技企业,专业研究和开发光通信器件产线监测和测试方案和自动化测试设备。产品覆盖CHIP、BAR、TO、OSA等器件、光收发模块、BOB等生产线。客户包括:华为、海思、中兴、光迅、海信、正源光子、旭创等,公司旨在为光电器件生产企业提供完美的服务,针对产线生产的痛点问题,模拟现实应用环境,进行半导体光器件性能指标生产监测和测试,实现产品生产过程实时可监控、可追溯。具有综合性、完备性、稳定性、半自动化或自动化等特点,从而提高用户产线产品的生产效率、可靠性、稳定性、一致性。

详细信息

数字源表测电阻率四探针法简述

电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量,某种材料制成的长为1米,横截面积为1平方米的导体的电阻,在数值上等于这种材料的电阻率。它反映物质对电流阻碍作用的属性,它与物质的种类有关,还受温度、湿度等因素的影响。在实际中我们可能需要测试一些薄而平的材料的电阻率或是涂层的电阻率,这时我们需要使用四探针测试的方法来测试。四探针测试法简单的来讲是将四个探针等距放置样品上,外侧两个探针提供电流,内部两个探针测试电压,然后通过测得的数据算出电阻率。

测试方法

测试电路如图5所示,

638029930008629453594.jpg

图5 四探针测试电阻率连接示意图

注意:在2线模式下搭建和拆除电路,禁止在4线模式下插拔。

电路搭建完成后,我们点击设置——输出设置,将源表调为4线前面板输出模式,然后点击测量,将源表设置为电流源模式,设置源限值,点击“OUTPUT”。得到测试值后通过计算公式计算电阻率。电阻率的计算公式为:

638029930008629453483.jpg

V是2、3间测得的电压;

I是1、4间提供的电流;

w是样品厚度;

k是样品直径与探针间距(s)之比和样品厚度与探针间距(s)之比决定的修正系数。如图6所示

638029930008942118713.jpg

图6 修正系数K值

取值K=K1K2,上面修正系数值可以通过查询四探针使用手册获得。

    更多有关数字源表测电阻率四探针法的信息上普赛斯仪表咨询;武汉普赛斯仪表自主研发的高精度源表(SMU),可以在输出电流时测试电压,也可以在输出电压时测试电流。输出电流范围从皮安级到安培级可控,测量电压分辨率高达微伏级。支持四线开尔文模式,适用于四探针测试,可以简化测试连接,得到准确的测试结果。

      上位机软件指导电阻率测试步骤,测试方法清晰明确,即使不熟练的工程师也能迅速掌握测试方法。       内置电阻率计算公式,测试结束后直接从电脑端读取计算结果,方便灵活的做后续处理分析系统主要由源测量单元、探针台和上位机软件组成。四探针可以通过前面板香蕉头或者后面板三同轴接口连接到源表上。


同类产品推荐

相关分类导航

产品参数

在线询价 在线询价
您的留言已提交成功~

采购或询价产品,请直接拨打电话联系

联系人:陶女士

联系方式:
当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :