场发射透射电子显微镜(TEM)

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场发射透射电子显微镜(TEM)

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SEM扫描电子显微镜

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东莞市保绿仪器设备有限公司成立于2010年12月27日,自公司成立起就立足高起点、高科技,与企业建立良好的合作关系,如德国布鲁克、德国蔡司、美国赛默飞、德国IS、英国Bentham、澳大利亚PSI、美国安捷伦等国际公司,将世界上具有*技术的相关设备进行推广并成功应用于材料分析和检测、LED检测及光源检测,质量计量监督检验、动植物检验检疫和高校科研等实验室,并提供研发、制造和检测一体化解决方案和产品定制服务等。

详细信息



1、主要功能及应用范围:

FEI TECNAI G2 F20仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件,能获取TEM明场、暗场像高分辨像和选区电子衍射,能进行EDX能谱分析和高分辨STEM原子序数像的分析,STEM结合EDX点、线、面扫描的可以进行微区能谱分析,利用三维重构软件进行样品的三维重构和分析。

该仪器可完成材料组织形态、晶体结构、化学成分、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析,可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学, 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。

2、主要规格及技术指标:

加速电压:200KV

放大倍数:25K-1030K

点分辨率:0.24nm

线分辨率:0.102nm

信息分辨率:0.14nm

样品倾斜角度:< ±30°

相机常数: 30-4500 mm;

电子枪:肖特基热场发射电子枪

球差系数Cs/色差系数Cc:1.2mm/1.2mm

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