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高分辨透射电子显微镜(TEM)
仪器照片 | ||
仪器名称 | 高分辨透射电子显微镜 | |
仪器型号 | JEM-2010 | |
生产厂家 | 日本电子公司 | |
仪器简介 | 透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像,投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。该设备包含有TEM﹑EDS﹑NBD﹑CBD工作模式,可观察材料的质厚衬度像,衍射衬度像和高分辨电子显微像;可获得不同取向的电子衍射花样;可进行微区成分分析。 | |
技术参数 | 加速电压:80-200kV 电子枪:LaB6晶体 能谱仪:Link-Inca超薄窗口能谱仪 放大倍率:50-150万倍 分辨率:点分辨率≤0.23nm,线分辨率=0.14nm | 加速电压稳定性:≤2ppm 物镜电流稳定性:≤1ppm 物镜色差系数:≤1.4mm 物镜球差系数:≤1.0mm 束斑尺寸:TEM mode: 优于20nm EDS/NBD/CBD mode: 优于1.0nm |
送样要求 | 建议提供文献图片或者以前做过的图片,如果没有,检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片:即筛选出三个比较好的区域,每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片,对于找不到符合测试要求的区域的样品,我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况!寄送样品质量大于20 mg。 |