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现场/远程-场发射透射电子显微镜
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Tecnai G2 F30 是一台多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。
FEI Tecnai G2 F30
Tecnai G2 F30的主要功能是TEM形貌观察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping。广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域.