现场/远程-场发射透射电子显微镜

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现场/远程-场发射透射电子显微镜

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FOF实验室:为北京依维特技术服务有限公司旗下专业检测实验室,为自主独立第三方检测机构。公司伊始以来服务于,科研,高校等。如航天科工,系统,985/211中多所高校,来帮助客户解决样品多,机时少等诸多问题。公司拥有专业的导师顾问,解决实验上的疑难杂症,让科研人得之所需,需之即快的服务体验。 实验室上线网上商城2.0版-- ,实现网上自由订单模式,客户轻松自助下单,避免传统人工下单的时间久,不透明等弊处。客户可随时随地在网站内查看订单状态,完成情况。有专业项目经理随时在线沟通,为您的样品保驾护航,解决您最关心的检测问题。 实验室使用仪器均为日立,FEI,布鲁克等行业品牌,精准剖析样品本质。实验工程师皆有多年仪器操作经验,熟悉材料,生物等样品特性,选择合适的测试环境,严谨的测试方法,严格把控实验环节,得到您最想要的实验结果。 检测覆盖:微观形貌有扫描电镜,透射电镜,球差电镜,FIB等,可在样品收到当天得出数据,反馈予客户,享受到测试体验。成分分析拥有国内同步辐射资源。更有结构分析,理化性能,环境工业...等测试能力。高效的测试反馈可解您的燃眉之急。

详细信息

设备介绍

Tecnai G2 F30 是一台多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

仪器型号

FEI Tecnai G2 F30

技术参数

  • 点分辨率0.20 nm
  • 线分辨率0.10 nm
  • 物镜球差系数1.2mm
  • 物镜色差系数1.4mm
  • 信息分辨率0.14nm
  • HE STEM分辨率0.17nm
  • 电子枪类型肖特基场发射枪

案例展示

    应用范围

     Tecnai G2 F30的主要功能是TEM形貌观察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping。广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域.

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