该设备可以评估透明部件的变形和薄膜的延迟不均匀性。从显微镜尺寸到大尺寸（约 50 cm），我们备有与测量对象相对应的产品系列。

PA系列是测量范围为0～130nm的低相位差装置，以500万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
适用于测量相位差小的物体，如玻璃制品、镜片等。

WPA 系列是通过测量三个波长的双折射/相位差分布，将相位差测量范围从 0 扩展到 3500 nm 的系列。
适用于相位差较大的透明树脂制品的测量

测量波长为 850 nm 的 PA/WPA 系列。我们为不透射可见光的树脂和硫属化物玻璃（人脸识别、LiDAR 系统等）的质量控制和工艺开发提供强大的工具。