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CRN-100 napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率
- 型号
- CRN-100
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详细信息
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍
超高电阻量程：10E+9～10E+15Ω/□的非接触式测量
面内多点测量功能
2-D/3-D映射图像显示
Windows7专用软件
测量数据可以CSV文件格式输出
非接触式可不受接触电阻影响进行测量
测量规格
测量对象
*原则上，本装置测量范围内的任何样品均可测量。请联系我们。
・超高电阻薄膜样品（a-Si、IGZO等）
・接近绝缘的半导体材料
・导电橡胶
这样的
测量尺寸
尺寸：最大300×400mm
厚度：最大 2mm
*可以进行尺寸对应等定制。请联系我们。
测量范围
10E+9 至 10E+15Ω/□
测量规格
测量对象
半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜（金属、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*请联系我们）
测量尺寸
2 至 8 英寸
（可选；12 英寸）
测量范围
[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
（*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时）
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq
（*所有探头类型的总范围）
