5G通信 IC芯片开封试验

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5G通信 IC芯片开封试验

型号
广电计量检测集团股份有限公司

高级会员2年 

工程商

该企业相似产品

环保监测,土壤检测,水质检测,噪音检测,三废检测,计量校准,环境可靠性测试,化学材料检测

广电计量检测集团股份有限公司(简称:广电计量)成立于2002年,是广州无线电集团旗下A股上市企业。广电计量前身是原电子602计量站,经过多年的发展,现已成为一家全国布局、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客⼾提供计量、检测、认证、评价咨询等“一站式”技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于高水平。


广电计量坚持以客户为中心,在全国主要经济圈设有60多家分子公司,拥有近6000名优秀员工,搭建了全国一体化计量检测与认证技术公共服务平台。企业服务能力覆盖装备制造、汽车、航空、轨道交通、船舶、通信、电力、电子电器、食品、环保、农业、医疗、石化等领域,可迅速响应各行业产业链上下游客户需求,为客户提供近距离、本地化的专业服务,帮助其提升自身竞争力。

广电计量视公信力为企业生命,技术能力获得了众多国内外机构和组织的认可和,通过了中国合格评定国家认可委员会(CNAS)、中国计量认证(CMA)、农产品质量安全检测机构(CATL)认可,是农业部“三品一标”检测实验室、全国土壤污染详查推荐检测实验室、中国CB实验室。基于遍布全国的服务网络和公信力,广电计量帮助客户稳健开拓本地市场乃至市场。


广电计量坚持创新驱动战略,致力于增强自主创新能力与核心竞争力,推动中国标准和中国制造走向世界。公司建有省市两级院士工作站,搭建了技术研究院、产业研究院等科研平台。在新能源汽车、轨道交通、无线通信等国家重点产业领域,先后主持编写90多项计量测试标准及规程,承担60多项国家、省部级等重点科研项目。

作为一家具有高度社会责任感的国有企业,广电计量以“传递质量信任、让人民生活更美好”为己任,全过程为产品质量安全、食品安全、生态环境安全和公平竞争市场秩序提供专业技术支撑,并在扶危济困、捐资助学、疫情防控等方面以实际行动践行社会责任,争做优秀国企标兵。

     

在高质量发展的新时代,广电计量将继续秉持科学、公正、准确、快捷、周到的服务理念,不断提升综合管理水平,增强技术服务能力,为“质量强国”建设保驾护航,为保障人民群众的美好生活不懈努力!

 

 

 

详细信息

服务内容

5G通信 IC芯片开封试验:芯片开封测试是芯片制造、封装环节中非常重要的一个环节,它能对芯片的可靠性、品质和生产成本等方面产生重要的影响。因此,在芯片应用领域,开展芯片开封测试是非常关键的。广电计量可提供化学开封、激光开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。

服务范围

5G通信 IC芯片开封试验:IC芯片半导体

检测标准

GB/T 37045-2018 信息技术 生物特征识别 指纹处理芯片技术要求

GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法

GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

GB/T 28856-2012 硅压阻式压力敏感芯片

EIA EIA-763-2002 自动装配用裸芯片和芯片级封装,使用8 mm和12 mm载体带捆扎

检测标准将不定期更新,可联系客服获取最新的检测标准。

测试项目

芯片开封测试是指对芯片外壳打开后,对芯片内部的电性能、可靠性以及物理参数进行测量和分析,进而评估芯片质量的过程。具体包括以下范围:

1、电参数测试

电参数测试是芯片开封测试中*为基础的部分,也是*为关键的一部分。主要测试项包括静态特性、动态特性、功耗、温度等方面的测试。静态特性包括电阻、电容、电感等测试,而动态特性包括电压、电流、频率等测试。

2、物理性能测试

物理性能测试是芯片开封测试中整个过程中不能缺少的一部分。主要测试项包括硬度测试、粘接强度测试、应力测试等方面的测试。这些测试可以直接反映芯片封装的质量,也是保证芯片正常工作的基础。

3、IC可靠性测试

IC可靠性测试是芯片开封测试过程中非常重要的一个环节,它是芯片封装良好不良好的标志。主要测试项包括IC粘合可靠性、外部连接可靠性、温度循环等方面的测试,这些测试可以为芯片使用提供更加稳定的保障。

4、造型尺寸测试

造型尺寸测试是指对芯片体积、尺寸、平面度、直线度等方面的测试,它们可以直接影响IC在使用过程中的稳定性和可靠性。

检测资质

CNAS、CMA

 检测周期

常规5-7个工作日

服务背景

半导体芯片在现代科技领域扮演着极为重要的角色,而芯片开封测试便是对芯片质量的评估,从而保证芯片正常应用。芯片开封测试是芯片制造、封装的重要环节,也是提高芯片质量的关键部分。本文将为您介绍芯片开封测试的范围及其重要性。

我们的优势

广电计量聚焦集成电路失效分析技术,拥有业界的专家团队及目前市场上的Ga-FIB系列设备,可为客户提供完整的失效分析检测服务,帮助制造商快速准确地定位失效,找到失效根源。同时,我们可针对客⼾的研发需求,提供不同应⽤下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务,如配合客户开展NPI阶段验证,在量产阶段(MP)协助客户完成批次性失效分析。

 


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