Auto 色新型相调制椭圆偏振光谱仪

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上海首立实业有限公司成立于2002年,是美国SOLY在中国投资的集科、工、贸于一体的综合性实业公司。目前在国内的主要有实验室成套设备和生产工业用试剂两大方面的业务。 其一:实验室成套设备和实验室工程方面,本公司是NIPPON DENSHOKU,HENKEL,SHEEN,DJH DESIGNS,TIMES,JICC,TPS,BLUE M,TABER,ERICHSEN等品牌的经销商和售后服务承包商。主营NIPPONDENSHOKU色差仪、色度仪、色差计、浊度仪、水分仪、分光测色仪、光泽计、密度计;仪立信Erichsen杯凸设备、岛津EDX720 X荧光光谱仪、HORIBA XGT-1000WR,TPS,Blue-M高温烘箱、TSA101(102,103)自动弹出式烘箱、紫外老化箱、光泽计、DJH膜厚仪、DJH MEK摩擦实验仪以及其它盐雾、磨耗、氙灯曝晒老化、红魔鬼振荡混合器、HENKEL铝合金表面钝化剂、皮膜剂,Taber磨耗仪等等相关实验室设备耗材及实验室工程;我司为涂料实验室、RoHS实验室、彩钢实验室及通用实验室提供一揽子解决方案。 其二:生产加工,首立实业保税区工厂主要生产出口工业电子油、金属表面保护剂、微动开关触点保护脂和防锈剂等工业试剂和耗材。注册商标牌号:Cu606铜表面防变色保护剂,GR601触点保护脂,AU602金表面防变色保护剂,AG603银表面防变色保护剂,SN604锡表面防变色保护剂,NI605镍表面防变色保护剂,FE607防锈油,F608高效防锈脂,RoHSColor六价铬显色剂。 董事长语录:“品质未来。” 经营理念:“以实力求生存、以改革求发展。” 公司使命:“掌握*技术、研发优质产品;积累经验、优化服务。” 员工守则:“专业、专注、诚信、高效” 经营目标:“提升自己、服务客户、回报股东、回报社会。” 公司自成立以来,凭借正确的经营理念,加之科学的管理方法,同美国、加拿大、德国、韩国、瑞典、瑞士、日本、中国香港及中国台湾地区等众多企业和社会团体建立了稳定长久的业务合作关系并树立了良好的信用度和企业美誉度。 公司尊重知识、尊重人才,注重技术、追求创新。我们热忱希望同海内外各届人士及同行精诚合作、面向未来、共创多赢。首立实业欢迎您莅临洽谈!首立实业诚邀您加盟!

详细信息

产品介绍

 

概要

Auto 色是一种新型的按键式全自动薄膜测量分析工具,简单的几个按键操作,即可完成全自动测量和分析。

几秒钟可完成样品分析,并提供完整的样品堆叠特性报告-包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性。

Auto 色 是一种高性能系统,它包括XYZ自动样品台、测量点实时成像和光斑尺寸自动选择功能,其各种各样的附件可满足用户对多种应用的需求。

Auto 色借助完整的操作向导,自动检测并诊断问题、同时提供完整的操作指南,实现对故障进行轻松处理。

便捷的操作性能和大量自动化特性,使得 Auto 色 成为一种可用于常规薄膜测量和质量控制的设备。

特征

  • 薄膜分析变得轻松简单
  • 高性能系统
  • *的光斑可视系统(技术)
  • 多种附件选择
  • 智能诊断

Auto 色的可视化系统

Auto 色 集成了*的MyAutoView光斑可视系统(技术),该系统配备在标准椭圆偏振光谱仪中。

MyAutoView允许操作者全程观测样品光斑,以确保各种类型的样品都能在正确的位置,以合适的光斑尺寸进行测量。

Auto 色 所提供的图像有大约1毫米的视场和10微米的分辨率,这对于大多数测量来说是非常必要的。

 

 

样品类型

MyAutoView光斑可视系统的优点

举例

图形化样品

对图形区域上的测量光斑直接观测.

玷污样品

直接观测样品上的测量光斑,以便选择合适测量位置.

透明样品

-只有前反射时,直接选择
-当不能忽略背面反射时,计算背面反射度

粗燥样品或不均匀表面的样品 (有条纹、瑕疵)

直接观测样品的测量光斑,以便选择合适测量点.

微结构样品

直接观测样品上能够表示0.8mm的细线特征的测量光斑.

圆柱状或球形的样品

直接观测在这种区域上用于光斑定位的平面。右图显示,光斑大小没有被优化到适合椭圆偏振的测量.

放在液体池、控温台等附件里的样品

对于放在液体池里的样品,测量定位变得非常容易(图示样品).

技术参数:

光谱范围:440-858nm 

光斑尺寸: 500 µm x 750 µm; 500 µm x 500 µm; 250 µm x 500 µm; 250 µm x 250 µm; 70 µm x 250 µm; 100 µm x 100 µm; 50 µm x 60 µm; 25 µm x 60 µm 

测试时间:通常为5秒,可小于1秒
 
准确度:NIST 1000 Å SiO2 /Si: d ± 4 Å - n(632.8 nm) ± 0.002, Fu色d silica: n ± 0.004 

观测样品: CCD-视场范围1.33*1mm,分辨率1µm 

重复性:± 0.2 Å  (测试条件 NIST 150 Å SiO2 /Si )

样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节;真空检测;Z轴高度50mm 

探测器:CCD-分辨率:2nm

测角仪:固定在70度,可预设为66度或者61.5度

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