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激光干涉膜厚测量仪
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上海昊量光电设备有限公司是目前国内光电产品专业代理商，也是近年来发展迅速的光电代理企业。除了拥有一批专业技术销售工程师之外，还有拥有一支强大技术支持队伍。我们的技术支持团队可以为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等工作。不但为客户提供适合的产品，而且为客户提供完善的服务是我们始终秉承的理念！
自2008年成立以来，昊量光电专注于光电领域的技术服务与产品经销，致力于引进国外很具*性与创新性的光电技术与可靠产品，为国内前沿的科研与工业领域提供优质的产品与服务，助力中国智造与中国创造! 目前，昊量光电已经与来自美国、欧洲、日本的多家光电产品制造商建立了紧密的合作关系。其代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究与国防等。
昊量光电坚持“专业源自专注，专注成就未来”的经营理念。近年来，我们专注于前沿的细分市场，为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、*激光制造等领域的客户提供系统解决方案。
秉承诚信、高效、创新、共赢的核心价值观，昊量光电坚持以诚信为基石，凭借高效的运营机制和勇于创新的探索精神为我们的客户与与合作伙伴不断创造价值，实现各方共赢！
立足于光电产业，昊量光电始终坚持价值创造与创新，赢得客户与合作伙伴的认可，不断拓展业务领域的新边疆，立志打造国际的代理服务品牌！
详细信息
Xper-IP激光干涉膜厚测量仪
Xper-IP是基于公司的光谱干涉技术的一款激光干涉膜厚仪，是一种非接触式、无损的、且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料（如各种薄膜，镀膜，显示面板等）的厚度。
薄膜测厚仪，激光，膜厚测量仪，激光干涉薄膜测量系统
韩国Nanobase公司是一家专注于激光和光谱测量领域的高科技公司，旗下有多种产品，包括成像系统，光学相干断层扫描系统，和激光干涉薄厚测量仪。
Xper-IP正是基于Nanobase的光谱干涉技术的一款膜厚测量仪，是一种非接触式、无损的、且快速的光学薄膜厚度测量设备。Xper-IP可用于测量各种材料（如各种薄膜，镀膜，显示面板等）的厚度，产品具有以下特点：
精度 ±0.2 %
重复准度 ±0.003 %
超宽测量范围 0.03 mm to 1.2 mm
人性化软件，易于使用
性价比高
同时测量多层膜厚
结构坚固，适用于实验室和工业环境
参数
型号 | Xper-ITP（激光干涉测厚） | Xper-（激光干涉测表面形貌） |
测量范围 | 100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波长范围，与分辨率成反比) | |
准确度 | ±0.2 % | |
重复性 | 单点：0.01% full range（<>） 平均：0.003% full range（<>） | |
速度 | 激光：标准30pps，（Max：100，000pps） | |
光源 | 激光：SLD(840nm) | |
应用领域
半导体，太阳能，SiC Coat, Si Coat, Polished Si, Optical disk
平板显示，Cell gap, Glass thickness, DLC, Highfunction film
光学薄膜，科研聚合物材料等，AR film, PET, Coating layer, Coating film, Evaporation film, Functionality film, Acrylic resin, Video head, etc.
测量原理
原理图
示例
