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起订量：
膜厚测量仪（厚度范围1nm~1.8mm）
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上海昊量光电设备有限公司是目前国内光电产品专业代理商，也是近年来发展迅速的光电代理企业。除了拥有一批专业技术销售工程师之外，还有拥有一支强大技术支持队伍。我们的技术支持团队可以为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等工作。不但为客户提供适合的产品，而且为客户提供完善的服务是我们始终秉承的理念！
自2008年成立以来，昊量光电专注于光电领域的技术服务与产品经销，致力于引进国外很具*性与创新性的光电技术与可靠产品，为国内前沿的科研与工业领域提供优质的产品与服务，助力中国智造与中国创造! 目前，昊量光电已经与来自美国、欧洲、日本的多家光电产品制造商建立了紧密的合作关系。其代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究与国防等。
昊量光电坚持“专业源自专注，专注成就未来”的经营理念。近年来，我们专注于前沿的细分市场，为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、*激光制造等领域的客户提供系统解决方案。
秉承诚信、高效、创新、共赢的核心价值观，昊量光电坚持以诚信为基石，凭借高效的运营机制和勇于创新的探索精神为我们的客户与与合作伙伴不断创造价值，实现各方共赢！
立足于光电产业，昊量光电始终坚持价值创造与创新，赢得客户与合作伙伴的认可，不断拓展业务领域的新边疆，立志打造国际的代理服务品牌！
详细信息
美国Semisonsoft膜厚测量仪
MProbe - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY
美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
测量原理：当波长范围的光照射到薄膜上时，从不同界面上反射的光相位不同，从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。
比如：
半导体（硅，硅，多晶硅）
半导体化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微电子机械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻胶
硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）
聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
MProbe膜厚测量仪操作简单，只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率（n, k）和表面粗糙度等信息，膜厚测量设备可支持不同光谱范围，光谱范围可达200-1700nm，因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件，所以测量结果几乎是即时得到的；TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明，测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。
分类：
| 1、单点膜厚测量——MPROBE-20 |  |
| 2、单点手持膜厚测量——MPROBE HC |  |
| 3、聚焦光斑膜厚测量仪——MPROBE 40 |  |
| 4、原位测量膜厚测量仪——MPROBE 50 INSITU |  |
5、支持Mapping的聚焦膜厚测量仪——MPROBE 60 |  |
| 6、在线膜厚测量仪——MProbe 70 |  |
