对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他

们所需的数据。 为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真

空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。 为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另

外、Q45加上了环境扫描（ESEM）模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。

Q45 材料科学应用

为应对研究宽范围的材料及结构及成分表征的需求，FEI Q45 SEM为应对当今的宽范围研究需求的挑战提供了灵活性和多功能。观察任何样品和获得所有数据：表面和成分像可以和附件结合起来确定材料的性能和元素组成

优点

在所有的操作模式下可以用SE或BSE图像表征导电或不导电样品。

样品制备工作最少化；低真空和环境扫描模式实现了无荷电成像及不导电样品和/或含水样品的分析

增加了除导电样品之外的非导电样品的分析能力，利用多级穿过透镜的抽气系统在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。

利用稳定的高束流（上至2 μA）电子束可以迅速获得精确的分析结果。

采用为ESEM选配的帕尔贴冷台可在样品的自然含水状态下完成样品的动态原位分析。

简单易用，即使是新手利用直观的软件可实现高效操作。