赛默飞增强型锁相热发射显微镜在半导体领域的应用
♦ ELITE (增强型锁相热发射显微镜) ,锁相热发射显微镜如今已成为高等电性故障分析流程中的技术手段。有缺陷的或表现不佳的半导体器件...
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Verios XHR SEM FEI扫描电镜Verios XHR SEM
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经销商上海百贺仪器科技有限公司成立于上海。在中国销售网络,以华东地区为中心,面向全国各地。是集售前支持和售后服务为一体的技术型企业。公司专业代理销售*的材料测试仪器,产品来自欧、美、日等在行业内的设备供应商。公司拥有行业内经验丰富的技术人员与专业化服务团队,可提供有效的设备技术,乃至实验室整体解决方案。
目前我们的主要业务包括
力学测量仪器在中国市场的销售,;
光学测量仪器在中国市场的销售;
光谱分析仪器在中国市场的销售;
精密量具在中国市场的销售;
环境模拟评估仪器的开发,实施;
金属材料领域试验室整体解决方案;
橡塑材料领域试验室整体测试解决方案;
模具制造领域试验室整体解决方案;
其他国外仪器产品在中国市场的销售;
Verios 是 FEI 可靠的 XHR(分辨率)SEM 系列的第二代产品。在半导体制造和材料科学应用中,它可在1至30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。
Verios 的材料科学应用
对材料科学家来说,Verios 可以将亚纳米表征拓展到当下正在开发的全新材料(例如催化剂颗粒、纳米管、孔隙、界面、生物对象和其他纳米量级结构),从
而让他们获得重要的新发现。无需转而采用 TEM 或其他成像技术便可获得高分辨率、高对比度图像。Verios 可灵活用于各类研究应用,能够容纳全尺寸晶圆或
冶金样本之类的大样本。您可以在高电流模式下执行快速分析,也可以开展精确的原型设计应用,例如电子束感应式材料直接沉积或光刻。
♦ ELITE (增强型锁相热发射显微镜) ,锁相热发射显微镜如今已成为高等电性故障分析流程中的技术手段。有缺陷的或表现不佳的半导体器件...