基恩士形状测量激光显微系统

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VK-X 系列 基恩士形状测量激光显微系统

型号
VK-X 系列

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基本情况

武汉茂迪科技有限公司创立于2012年 ,多年来在实验室仪器业界创立了良好的专业技术和服务品牌,作为的综合性科学服务提供商,凭借自身强大的技术后盾、经济实力、客户基础、销售网络和品牌忠诚度,被数百家国内外科学仪器厂商为其产品在中国的一级代理。公司自创立以来,始终以成为客户的实验室管家为宗旨,秉承“诚信、专业、快速、创新”的服务理念,先后服务于包括政府专业实验室、大专院校、药检、商检、质检、工业企业研发、计量中心以及市政工程等广泛领域。

2012年,公司通过整合行业优质丰富的产品资源,*的物流配送系统,优化订货流程,快速审核,直接下单无需预付,旨在通过齐全的产品线和系统化服务为广大科研工作者提供整体解决方案,全面降低时间精力成本,提高工作效率,创造成就!

详细信息


提高 VK-X100/X200 灵活性的周边仪器

VK 系列机架

高硬度专用机架固定在 VK 显微系统的后边。测量头可以调整至任何高度。 在测量头和底座之间插入一个垫块,提高稳定性,有助于高精度的测量。

各种物镜

根据物体形状,可以选择各种镜头,包括高 N.A. APO 镜头、长焦距离镜头和低放大倍率镜头。

300 mm 晶片载物台

可以观察和分析整个 300 mm 晶片,而不会有盲点。设计易于安装。

电动载物台

电动载物台对于图像自动连接和 Teaching 至关重要。设计易于安装。

大型样品载物台

大型液晶基板、PDP 基板等大型物体通过非破坏性观察可以观察、分析任何重要部位。

ISO 25178
表面性状测量模块 VK-H1XR

遵照国际规格 ISO 25178,可计算平面的各种参数的追加模块软件。可简单测量高度、空间、复合、功能、功能(体积)参数等的各种参数。








支持多种测量的便利功能

解析功能扩展模块 VK-H1XP [可选件]

凹凸部测量

将的高度阈值稍上部 (凸部),或下部 (凹部)领域分离成各个空间,然后对各个领域进行测量。

凹部测量

金属零件表面处理后 (3000 倍)

凸部测量

BUMP (2000 倍)

位置补正功能 [业界创新性]

设定标准样式,用模版打开另外的图像时,在与注册资料相同的位置,自动进行位置补正,大量地测量时非常有效。

自动位置补正

线绑定 (1000 倍)

高度差分析功能

将 2 个图像中的差异作为立体三维图像分析。 可以分析表面,并捕捉细小的变化。

球形· 平面角度测量

在已的区域,可自动抽出近似圆的半径。非手动,可控制测量偏差。

球形测量

微透镜 (1000 倍)

分析微粒使用的模块 VK-H1XG [可选件]

对显微系统视野内有许多微粒 ( 圆圈) 的目标物上自动进行“圆形分离”、“扩展”和“融合”。执行了测量预处理后,例如自动分离周围的圆形,可以对“数量”、“微粒直径”以及“长短轴”进行测量。





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