- 面议
参考价：
起订量：
TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置
- 型号
该企业相似产品
上海衡鹏企业发展有限公司成立于1999年11月，总部设于上海, 在深圳，香港，东京，河内设立有分公司。公司一直致力于引进技术、制造设备、精密检测仪器、关键生产材料，为中国电子制造企业服务。经过二十多年的发展，公司通过收购合并已发展为具有自主工业软件设计开发，高精密装置的设计及制造装配能力的跨国企业集团。服务于新能源汽车制造、半导体生产、5G通讯制造，航空航天，智慧医疗，自动化工业控制等细分行业。如今我们正不断努力，希望通过*高效的生产技术与设备，帮助您提高生产效率，降低能耗，保护环境。与您携手营造绿色地球，共创美好未来。
详细信息
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置特点： |
高速，高感度Die-DB检查 |
可以很灵敏的检测出CD缺陷 |
可以离线回放检查 （如果需要在离线回放检查时同时进行处理，需要另外追加 PC设备） |
可以进行Die和DB检查领域的混合检查（选配项） Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die |
可以对应MIS-CA1804T / 180nm设计规则 （最小检出缺陷尺寸：250nm） |
可以对应MIS-CA1303T / 130nm设计规则 （最小检出缺陷尺寸：180nm） |
