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TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置
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电子元器件及配件,焊接材料,实验设备
总部设于上海，系专业化、集成化的电子制造行业综合服务性企业。公司致力于引进国外制造设备、精密检测仪器、*生产材料，服务于国内电子制造行业，以助于国内企业提高产品品质，由制造型向创造型企业迈进。公司依托于中国国内电子制造业的高速发展，产品已涉及消费电子制造、汽车电子、半导体、LED以及光伏太阳能等行业领域，已在市场中建立起良好的信誉和广泛的商业资源。近年来，随着市场的日渐成熟和业务的不断发展，公司的业务已经遍布中国大陆以及港台市场，并形成较为完善的销售网络，深得广大电子产品制造商的青睐。本公司将紧跟信息时代的发展步伐，充分利用自身优势，不断提升自身的服务理念，致力于为客户提供更专业化、系统化的技术与服务，进一步建立稳固的销售网络，从而将公司发展成为中国电子行业发展的企业。
详细信息
MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半导体用光掩模缺陷检查装置特点： |
高速，高感度Die-DB检查 |
可以很灵敏的检测出CD缺陷 |
可以离线回放检查 （如果需要在离线回放检查时同时进行处理，需要另外追加 PC设备） |
可以进行Die和DB检查领域的混合检查（选配项） Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die |
可以对应MIS-CA1804T / 180nm设计规则 （最小检出缺陷尺寸：250nm） |
可以对应MIS-CA1303T / 130nm设计规则 （最小检出缺陷尺寸：180nm） |
