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芯片防静电能力检测
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广测产品检测研究所有限公司是一家全国化、综合性、军民融合的国内第三方检测机构，以科研检测为主，依托国家三所（中国电科集团），专注于检测、认证咨询和计量服务，试验分析，设计整改咨询，测试仪器销售。广测研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合，发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准，目前成为第三方分析测试技术服务单位，并获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息等服务。
广测研究所先后成立了化学实验室、微生物实验室、力学实验室、材料实验室、医学实验室、高分子实验室、声学实验室等。为我国航空航天、科研、司法单位、制造等部门提供了个性化的定制方案及服务。
本所提供建筑材料、金属产品、电子电器、新能源、环境安全、食品农产品、化工产品、化工材料、医疗制药、消毒产品、生物组织、半导体冶金矿产、纺织品、化妆品等产品的标准检测服务，出具有资质的检测报告，报告全国认可！
公司严格质量管理，遵循“科学规范、公正客观、准确可靠”的质量方针，与赛宝南京实验室、中国无委、美国UL、德国TUV莱茵、法国EUROFINS、挪威NEMKO、香港机电工程署等积极开展合作，可为客户提供CCC、CQC、CB、SRRC、FCC、CE、UL、GS、PSE、CE、SASO、RCM、GC等本地化认证和异地认证咨询服务。
公司在全国多地均有分部，北京、上海、广州、南京、成都等各大城市均有办事处及寄样点，全国重点实验室地处“一带一路”和长江经济带战略双节点城市 ，具有影响力的创新之都合肥 ，经济发达，交通便利，公司以专业、便捷的服务，获得了京东方、晶弘电器、联宝电子、中科院、美的、美菱等一大批客户的认同和支持，我们将持续创新，优化服务，竭诚为广大客户提供更加专业、完善的服务！
详细信息
业务挑战
为什么芯片需要防静电
静电是环境中的自然现象，是电荷在物体中的不平衡分布的一种现象。物体带电后，电荷会保持在物体上，故称为静电。静电积累之后，当物体电位不同，电荷通过瞬间电流发生转移的过程即为放电。
半导体产品具有非常细小的线路，为了避免芯片在生产或使用过程中被静电放电所损伤，在集成电路内皆有制作静电放电防护电路。随着半导体产业制程发展推进，芯片尺寸不断缩小，ESD耐压能力是否同步提升，在静电防护的能力上也备受挑战，ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针。
芯片防静电能力测试
▶ 芯片放电模拟测试
━ 模拟因人体在地上走动磨擦或其他因素，在人体上已累积了静电，当此人去碰触到芯片时，人体上的静电便会经由芯片的pin脚进入芯片内，再经由芯片放电到地去，瞬间产生的电流可能造成芯片的损毁。
━ 模拟机器设备本身累积了静电，当此机器去碰触到芯片时，该静电便经由芯片的pin脚放电。因机械等效电阻为0奥姆，因此瞬间产生的电流更大，对芯片的破坏力也强。
━ 芯片先因磨擦或其他因素而在内部累积了静电，但在静电累积的过程中并未被损伤。当此带有静电的芯片在使用时，其pin脚碰触到接地面时，芯片内部的静电便会经由pin脚自芯片内部流出来，而造成了放电的现象。
━ 瞬间电流被锁定或者放大，而造成芯片在电源与对地之间造成短路，而因为大电流损伤芯片。由于目前半导体电路设计密度越来越高，电压或电流的瞬间变化对于芯片的损伤也越趋严重。
适用测试标准 : 协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
适用产品范围: 集成电路芯片、晶体管、MOS管…等。
常规样品要求: 以具体标准为准。
▶ 检测项目
━ 人体静电测试 (HBM，Human Body Model)
━ 机械静电测试 (MM，Machine Model)
━ 充电放电测试 (CDM，Charged Device Model)
━ 闩锁效应(Latch-up)
━ 传输线脉冲(TLP，Transmission Line Pulse)
▶ 解决方案
━ 1.ESD实验设计
━ 2.ESD测试
━ 3.数据分析与汇整报告
━ 4.ESD培训及咨询
