产品概述；

• maxLIGHT pro是一款集成了直接光束分析仪的高性能光谱仪功能。
• 光谱仪和光束分析仪模式之间的自动快速切换可以对光束特性进行验证。该光谱仪具有从1nm 到200nm的像差校正。
• 通过三个覆盖范围1-20nm，5-80nm 和40-200nm 的光栅可以进行宽带光谱测量。
• 该光谱仪可以在没有入射狭缝的情况下使用，以在距离光源一定范围内地收集光。
• 模块化设计能够匹配不同的实验几何形状和配置。
• 具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元，以及电动光栅定位。

主要特征：

光源直接成像

光源直接成像到检测器上，不需要狭窄的入射孔；

比标准版本高大约 20 倍以上的光收集和信噪比；

坚固耐用的设计：

 设计紧凑，占地面积小；

抗环境干扰，无狭缝设计；

没有活动部件；

光栅位置监控，用于保持光栅对准。

特殊解决方案：

非磁性仪器

特殊的几何形状外壳

电磁脉冲保护

超真空配置

根据需求定制

每台光谱仪都是经过定制的，以匹配所需的应用，例如：

提供与实验箱接口

可调整光源距离

根据用户定义提供滤光片安装座

【产品规格参数】

其他配置（光谱范围，狭缝操作，高分辨率等）可根据要求提供。

样品测量结果证明了极紫外波段光谱仪的分辨能力。

所显示的高次谐波光谱是由单个飞秒激光脉冲与固体目标相互作用和随后的光谱滤波产生的。极紫外光谱仪清楚地解决了生成过程固有的子结构。图片上半部分：由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分：通过列合并获得的谐波频谱。(Plasma Phys. Control. Fusion 53 (2011)124021)

样品测量结果证明了信号强度的提高。

在相同的信号强度下，与标准光谱仪（虚线）相比，H + P 光谱仪（实线）的分辨率明显更高。与标准方法相同的分辨率需要窄缝设置，因此信号强度会显著下降。H + P 的无狭缝设计可以同时提高分辨率和信号强度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.