hardLIGHT TXS 型 HHG光谱仪、X射线光谱仪

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hardLIGHT TXS hardLIGHT TXS 型 HHG光谱仪、X射线光谱仪

型号
hardLIGHT TXS

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北京光量科技有限公司,一直致力于高质量科研产品的推广和售后服务工作,在飞秒激光器、稳态瞬态光谱及成像、飞秒皮秒微纳加工等超快领域拥有专业、全套的解决设备及方案。 公司目前主要代理的科研产品有一体化飞秒激光器、皮秒激光器、纳秒激光器、超连续白光光源、光学参量放大器(OPA)、科研级深度制冷CCD、sCMOS、ICCD、EMCCD/EMICCD、深度制冷InGaAs相机、高性能光栅光谱仪及瞬态吸收、荧光上转换、TCSPC光谱系统、太赫兹时域光谱系统、一体化紫外可见近红外分光光度计、三级联显微拉曼光谱系统、便携式拉曼光谱仪以及相关光测量设备和元器件等,产品线还在不断地更新完善。产品主要覆盖的应用领域有飞秒超快光谱技术、超分辨光学成像、飞秒微纳加工、燃烧、角分辨光电子能谱、阿秒科学、高次谐波、太赫兹、二维红外光谱、拉曼光谱、天文天体物理、多光子活体细胞成像等。 目前公司总部设立在北京,杭州、长春和深圳分别设立有办事处,可以快速响应全国的客户需求和服务。凭借专业的销售队伍、强大的技术支持和优质的科研仪器,使得光量科技成为全国各大科研院所和高等院校信赖的科研仪器代理单位。

详细信息

结构特征
  • 新型的TXS光谱仪可在HHG光束(高频光束)、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
  • 对 X 射线光谱进行指纹识别以进行在线光束表征,透射光束保持不受干扰,透射率大于 90%,以便进一步用于实验(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
  • 单次可测量2 keV 和 4 keV 之间的光子能量。

TXS06.jpg

通过简单地将反向散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱测量(XES)。

软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道,例如,在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。

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X-ray absorption spectroscopy (XAS) at the sulfur K-edge (data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)

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