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AMC-7800精密划片机
北京飞凯曼公司提供精密划片机。日本APCO公司系列，型号包括AMC－7600，7800，8000。广泛应用于硅片、光掩膜、液晶显示器用TFT、石英、集成电路器件等样品横断面的切割。划片精度±2.5微米，适用于Z大达8英寸，厚度0.6至10毫米样品，可确保获得光滑的横断面以便于进一步观察。具有CPU控制，操作简便，制备速度快，可以刻划平坦或弯曲的样品。目前，包括东芝、索尼、爱普生、IBM、 参考价面议 -
ABR-10应力双折射测试仪
北京飞凯曼公司提供应力双折射测试仪。日本UNIOPT公司全自动双折射测量系统 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 双折射系数的线性解析度高达 0.01nm ； 可同时测量延迟轴和主轴两个方向； 基于光学相位差的双折射系数显示； 一秒采样时间； 应用： 液晶显示屏膜； 聚合物膜的取向； DVD 和 CD 光学系统组件； 由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力； 某些透明材料的内部残余应力， 参考价面议 -
VT1000低温探针台
北京飞凯曼公司提供连续变温（高低温）真空探针台系统。变温真空微探针台系统设计用于半导体材料如GaAs、非晶硅等需要低温（70K）至高温（730K）下的测试需要。变温微探针系统可提供精确的温度控制和无振动无噪音的工作环境。该微探针系统具有1到7根独立控制的探针，每根探针带有可三轴移动线缆，可直线移动，可精确定位，定位精度优于50微米，该平台可执行宽范围的测试和实验，包括：材料的电子表 参考价面议 -
HALL8686变温霍尔效应测试仪
北京飞凯曼公司提供连续变温霍尔效应测试仪。中国台湾SWIN公司生产的 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 参考价面议 -
LPS朗缪尔探针
北京飞凯曼公司提供朗缪尔探针测试系统。是等离子体性质的诊断方式之一，也是Z基本的诊断方式。向等离子体中插入一根极小的电极，然后加上一定的电压，测定通过的电流与所加电压的关系，可以得到探针的电压-电流特性曲线。再根据曲线上的特殊点就可以求得等离子体的密度、电子温度、等离子体电位和悬浮电位。
本公司提供的，是根据我们科研工作者*的扎实的理论研究和实际工艺探索，研制的一套适用于等 参考价面议 -
FST150薄膜应力测试仪
北京飞凯曼科技公司提供薄膜应力测试仪。，又名薄膜残余应力测试仪或薄膜应力仪，是专门用于测试和研究薄膜材料和薄膜制备工艺的*的工具。
薄膜中应力的大小和分布对薄膜的结构和性质有重要的影响, 可导致薄膜的光、电、磁、机械性能改变. 例如, 薄膜中的应力是导致膜开裂或与基体剥离的主要因素, 薄膜中存在的残余应力很多情况下影响MEMS 器件结构的特性, 甚至严重劣化器件的性能, 薄膜的 参考价面议 -
SB100塞贝克热电效应测试仪
北京飞凯曼公司提供塞贝克热电效应测试仪系统。塞贝克效应是一种物理现象，即两种不同的导体材料或者半导体材料之间的温度差异在接触时会产生电势差。当热量施加在两种导体或者半导体中的一个时，热电子流会从热端流向冷端。当这对材料通过电子回路连接时，直流电流（DC）就会从回路中流过。塞贝克效应产生的电压很小，通常在连接点每开氏温度只有几个微伏或几个毫伏。如果温度差足够大，一些塞贝克效应器件可以产生数毫伏甚至数 参考价面议 -
HALL8800霍尔效应测试仪
北京飞凯曼公司提供霍尔效应测试仪。中国台湾SWIN公司生产的 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。
除了用来判断半 参考价面议