本仪器符合以下标准

GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）

GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）

JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪

测量原理

a)磁性法

当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。

b)涡流法

利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。

技术参数

●     测量范围：0-1200um

●     工作电源：两节五号电池

●     测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5

●     公英制转换：um/mil转换

●     分辨率：0.1um/1um（100um以下为0.1um）

●     环境温度-10-40℃

●     相对湿度≤85%

●     zui小基体10*10mm

●     zui小曲率凸5mm;凹5mm

●     zui薄基体：0.4mm

●     重量：99克（含电池）

●     尺寸102mm*66mm*24mm

仪器配置：

 1、主机                      一台

2、标准片                                        四片
3、基体                            一块

4、电池                           两颗

5、说明书                         一份

6、保修卡                         一张

7、合格证                         一份