品牌
其他厂商性质
郑州市所在地
BDR-003A(半导体)材料热导率系数测试仪
面议JKZC-MECT2材料电磁特性(效应)综合测试系统
面议BKTEM-Dx热电性能分析系统
面议ZEM-5热电性能分析系统
面议ZEM-3热电性能分析系统
面议ZT-4C铁电性能综合测试系统
面议2017全国高校岩土工程实验室仪器采购清单及技术参数表
面议中科院zui强UDM-1000超声波成孔质量检测仪
面议铁科院CPMS-05路基连续压实监测仪,路基压实仪
面议JKGT-G300高温铁电材料测量系统
面议GDJD-600型高低温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品)
面议ZD-5背包式轻便钻机(轻便岩心钻机)
面议GWJD-1000型高温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品)
关键词:高温介电测试温谱仪、高温介电性能测量系统、高温介温谱能系统
产品介绍:
GWJD-1000型高温介电性能测量系统主要应用于高温下材料的介电性能测
试与分析,包括介电常数、介电损耗、电容等参数,同时测试出测试材料的其
他阻抗参数,广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。
一、产品优势:
1.耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好.
2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品,方便快捷
3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据
二、《符合ASTMD150和 D2149-97标准>>
<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的*方法;》
三、产品特点
1.可以在高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能;
2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能;
3.可以测量样品的介电常数、介电损耗,电容C,损耗D,电感L,品质因数Q,阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线,时间和电压变化的曲线;
4、可提供块体,薄膜,单样品,四样品夹具,满足不同测试要求。
主要技术指标:
测量温度: 室温-1000°C | 升温斜率:2°C /min |
频率范围:20-30MHZ | 精度:0.05% |
测量精度: ±0.1°C | 控温精度:±1°C(PID精准控温) |
高温样品杆:耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好 | 测试方法:两线法或四线法 |
测试通道数:1-4通道 | 一次可测样品数:1-4个样品 |
样品尺寸:直径小于2-10mm,厚度小于1-10mm,样品放置位置灵活,可快捷安装和拆卸 | 测量精度:0.05% |
AC电平: 0V 到 1V rms | 直流偏压:0到±40V/100mA |
数据存储:EXCEL表格等多种格式 | 加热方式:电阻丝加热 |
真空度范围:100 Pa-1大气压 | 电极材料:铂金 |
数据传输:4个USB接口 | 仪器通讯:USB或GPIB |