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测评贴片电容性能,从三个方面进行,首先是贴片电容的四个常规电性能, 即容量Cap.损耗DF,绝缘电阻IR和耐电压DBV,一般地,X7R产品的损耗值 DF<=2.5%,越小越好,丨R*Cap>500欧*法,BDV>2.5Ur.其次是贴片电容的加速寿
命性能,在125deg.c环境温度和2.5Ur直流负载条件下,芯片应能耐100小时不 击穿,质量好的可耐1000小时不击穿。再次就是产品的耐热冲击性能,将电容浸 入300deg.c锡炉10秒,多做几粒,显微镜下观察是否有表面裂纹,然后可测试容 量损耗并与热冲击前对比判别芯片是否内部裂纹。贴片电容在电路上出现问题, 有可能是贴片电容本身质量不良,亦有可能是设计时选取规格欠佳或是在表面贴装 机械力热冲击等对贴片电容造成一定的损伤等因素造成。
产品的可靠性寿命主要与材料、设计有关,当然与制造工艺亦有一定的关系。 可以说产品寿命与库存时间是没有关系的。但要注意一点,库存时间长了,X7R和 Y5V特性的MLCC产品容量会下降,端头上锡能力较差。
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7. MLCC使用注意事项
检测:检测方法要正确,容量会因检测设备的不同而有偏差;
搬运与储存:注意防潮,Y5V与X7R产品存放时间太长,容量变化较大。
焊接:片式瓷介电容器的端头可适用于多种焊接方法。通常*具有抗侵蚀的三层 镀镍阻挡层端电级;对环氧粘接,建议使用钯-银端电极。无论哪一种焊接方 法均需注意预热,尤其是对大规格产品。
清洗:焊料会一定情度影响绝缘电阻,保证清洗。
绿色环保:无镉、无铅要求 小型化:移动通讯 薄介质大容量化:替代铝、钽电容 残金属化:降成本
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