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MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机是轮廓和粗糙度测量的理想选择。一个测量站适合两种测量任务, 包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱。
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20
描述
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓（PCV 或 CD 120）测量。
结合 XCR 20 测量和评定软件，此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
主要优势有：
一个测量站适合两种测量任务
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统（如上文所述）。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
另外，此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
技术参数:
接触速度(Z方向) | 0.1-1mm/s |
测杆长度 | 175mm，350mm |
测量速度（文本） | 0.2mm/s至4mm/s |
针尖半径 | 25 |
扫描长度末尾（X方向） | 200mm |
分辨率 | Z方向，相对探针针头： 0.38μm（350mm测杆）/0.19μm（175mm测杆） Z方向，相对测量系统：0.04μm |
扫描长度开始（X方向） | 0.2mm |
取样角 | 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至88°，前缘高至77° |
定位速度（文本） | X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s |
导块偏差 | ＜1μm（200mm以上） |
测量原则 | 探针法 |
输入 | R测头，MFW250 光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置） |
测量范围mm | （in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（±750μm）；±1000μm,±10000μm（±30000μm） |
扫描长度（文本） | 自动；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 测量至挡块，可变 |
采样长度数量符合ISO/JIS | 1至50（默认：5） |
测量力(N) | 1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中设置） |
测量站配件
标准
MarSurf XCR 20
包含 Midrange 标准控制单元、 XCR 20 软件、 Mahr 许可密钥
MarWin PC*
TFT 24“ 显示器
MCP 21 手动控制面板
GD 25 驱动单元
MFW 250 B 测头系统套件
PCV 200 驱动单元
标准轮廓校准套件
ST-500 测量立柱
GD 25 和 PCV 联合支架
CT 300 XY 工作台
可选：
PPS 平口虎钳
