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单晶型号测试仪
单晶型号测试仪是快速鉴别硅晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器，测量范围宽，硅材料电阻率从0.01~199.9Ω*cm。
功能特点
仪器采用进口16位单片IC电路为核心，利用数字采集滤波技术，并用“P”和“N”数码直接显示，因而使测量的准确度和稳定性大幅度提高。仪器采用手持式三探针探头，使用简单，操作方便。
技术指标
■ 测量范围： 硅单晶材料电阻率0.01~199.9Ω*cm
■ 可测量材料： 半导体硅棒和硅片、硅碎颗粒
■ 显示方式： P、N直显
■ 测试探头： 手持式三探针（高速钢）
