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 | 项目名称 | |
| 检测目的 | 观察微观区域的形貌 | |
| 检测范围 | 电子元器件、汽车电子 、医疗、通讯、手机、 电脑、电气等 |
| 微观形貌分析项目简介 |
按照具体检测要求，通过光学显微镜、扫描电镜对样品的表面、断口及其它关注截面进行高倍观察。比如表面形貌、断口形貌、、微观层状结构等需要进行高倍观察的检测项目。
通常光学显微镜的观察倍数为1000倍，检测面必须平整；扫描电镜对平整度要求不高，形貌也能观察，需要样品具有导电性，一般的扫面电镜可清晰观测的倍数为5000~20000倍不等（具体看样品的导电性，以及气体残余情况）。场发射扫描电镜的可清晰观测的倍数在10万倍以上。
| 微观形貌分析试验方法和标准 |
光学显微镜、扫描电镜（SEM）
| 微观形貌分析试验图片 |
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| 容大检测实验室 |
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