■ 无需再磁场翻转

■ 可匹配类型的磁环境

■ 测量速度是目前业内常规霍尔的100倍

■ 理想的超低迁移率材料的测试设备

霍尔效应测量是表征新型电子材料和器件的传输特性的关键。目前科研人员常规使用传统的DC场方法进行，只需要稳定的电流源，电压表，开关和磁环境，并且对于具有较高迁移率的较简单材料而言其测量数据相对简单且可靠。然而，随着科研和材料的发展，目前越来越多的材料的迁移率开始越来越低，其测试变得更加困难，测量数据也变得很糟糕，如重复性很差，霍尔电压与理论值偏差异常大，P/N结判断错误等等。特别是对于现在的各类新型半导体材料，如光伏、热电和有机物方面的材料。

在过去的几年中，对于低迁材料的解决办法就是使用AC磁场技术屏蔽干扰电压和提取较小的霍尔电压信号，其测试数据虽然可靠，但是其中测量窗口的延长，同时也意味着热漂移误差的不全部去除。但延长的测量间隔也会增加热漂移效应的新形式误差。随着技术的发展，现在已有一款更快速的霍尔测量仪来替代之前“漫长”AC测试，使得您可以轻松实现低迁材料的测试，您还在等什么呢？

快速霍尔技术就是为了可以在几秒钟之内完成对于低迁移率材料的精准测量，*消除因为测试窗口的延长引起的热漂移误差。

■ 支持范德堡和霍尔巴测试

■ 支持传统DC霍尔测量

■ 支持Step-By-Step操作，实现您想要的测试

■ 无需再进行磁场反转

■ 无需AC磁场霍尔测量

■ 自动优化激励量程和测量量程

■ 迁移率支持到0.001cm2/Vs

■ 高阻选件允许测量样品阻值 10MΩ to 200GΩ

■ 从干扰测量参数中提取有效测试数据

■ 可与简易SCPI命令界面或MeasureLINK-MCS软件配合使用

■ 用于简化集成和数据传输的数字和

■ 模拟I/O