XT-50冲击试样缺口投影仪

一、产品简介：

XT-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的专用设备

二、技术参数：

1.型号：XT-50

2.投影屏直径：180mm

3.工作台尺寸：110×125mm

4.圆工作台直径： 90mm

5.工作台玻璃直径：70mm

6.工作台行程：纵向±10mm横向±10mm升降±12mm（无刻度）

7.工作台转动范围 ：0~360°（无刻度）

8.仪器放大倍率 ：50X

9.物镜放大倍率 ：2.5X

10.投影物镜放大倍率 ：20X

11.光源（卤钨灯）：12V    100W

12.电源：220V    50Hz

13.外形尺寸 ：515×224×603mm（长×宽×高）

14.重量：约18Kg