GCIB 40是一种40 kV气体团簇离子束，产生团簇离子聚焦 束，用于需要对分子离子敏感的分析应用。 GCIB在较大程度地减少碎片和从表面去除完整分子方面具 有单独的的能力。在40千伏电压下工作的GCIB 40提供了 优异的电离产率，进一步增强了分子信号。 GCIB 40具有可选择的簇大小，从单体到10000多个，斑 点大小小于3µm，是分析完整分子离子的强大工具，具 有高空间分辨率。 可在J105 SIM上使用，或作为选定第三方仪器的升级。 请与我们联系以获取更多信息。 

由于离子束和分子信号的丢失，有机样品的SIMS分析通常会导致碎片。使用GCIB，可以减少损伤，以便对材 料进行分析和深度剖面。 然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次离子产额可能 较低。在更高的能量下操作会产生更高的二次离子产率，同 时仍然保持低损伤特性。 下图显示了在分析有机样品时，离子产额如何与束流能量成 比例。尽管一次离子剂量保持不变，但来自Irganox 1010薄膜 的二次离子信号从20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同时，在所有的光束能量中，碎片几乎保持不变。

• 40 kV气体团簇离子束，光斑尺寸为3µm。
• 实时集群测量和调整。 
• 从单体到>10000的可选簇。 
• 使用一系列气体运行，包括 Ar、CO2、Ar/CO2混合气体。 
• 水源团簇升级可用。